IEC 47A/880/CD-2012 集成电路.电磁发射的测量.第3部分:辐射发射的测量.表面扫描法
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时间:2024-05-19 06:53:46
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【英文标准名称】:IntegratedCircuits-MeasurementofElectromagneticEmissions-Part3:Measurementofradiatedemissions-Surfacescanmethod
【原文标准名称】:集成电路.电磁发射的测量.第3部分:辐射发射的测量.表面扫描法
【标准号】:IEC47A/880/CD-2012
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2012-01
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/SC47A
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:Definitions;Electricalengineering;Electromagneticradiation;Electronicequipmentandcomponents;Frequencyranges;Integratedcircuits;Measurement;Measurementconditions;Measuringequipment;Measuringtechniques;Nearfield;Printed-circuitboards;Radiation;Surfaceproperties;Surfaces;Testcircuits;Testing;Testingconditions;Testingdevices
【摘要】:
【中国标准分类号】:L55
【国际标准分类号】:31_200
【页数】:
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:集成电路.电磁发射的测量.第3部分:辐射发射的测量.表面扫描法
【标准号】:IEC47A/880/CD-2012
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2012-01
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/SC47A
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:Definitions;Electricalengineering;Electromagneticradiation;Electronicequipmentandcomponents;Frequencyranges;Integratedcircuits;Measurement;Measurementconditions;Measuringequipment;Measuringtechniques;Nearfield;Printed-circuitboards;Radiation;Surfaceproperties;Surfaces;Testcircuits;Testing;Testingconditions;Testingdevices
【摘要】:
【中国标准分类号】:L55
【国际标准分类号】:31_200
【页数】:
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